半導體檢測龍頭汎銓科技近日正式向智慧財產及商業法院提告光焱科技，指控其侵害「光學損傷檢測裝置」發明專利（I870008B），並提出新台幣2億元的損害賠償。這起事件不僅是台灣矽光子產業的首例專利訴訟，更揭示了兩大檢測廠在AI應用關鍵技術上的激烈競爭，引發業界高度關注，也讓台股檢測雙雄陷入前所未有的生存攻防。
事件核心與汎銓立場
根據汎銓董事長柳紀綸表示，公司已取得台灣、日本、美國的相關專利，並將其視為佈局六年之久的「秘密武器」。柳紀綸強調，矽光子（SiPh）晶片的開發與傳統電路（IC）不同，光的IC故障點極難定位，而汎銓的技術能精確找到「光損定位」，這正是整個矽光子失效分析（FA）的「入海口」。他進一步解釋，這套搭載IR-NIR CCD感測技術，是汎銓與美系AI巨頭如Meta、NVIDIA共同研發的成果。
柳紀綸直言，該專利撰寫明確，旨在保護其在機台上安裝IR相機搜尋矽光子訊號的權利範圍，並認為此技術易於取證。對於是否與同業和解或授權，柳紀綸態度堅決地拒絕，表示「和解的前提就是他不能再做」，並展現出市場寡佔的野心，期望在矽光子定位分析領域達到90%以上的市佔率。汎銓預計在今年底推出量產版檢測機台，單台售價預估突破1億元，並規劃於10月推出正式銷售版機台，目標成為具備「裝置銷售」能力的技術領航者。
光焱科技嚴正駁斥與自研強調
針對汎銓的強勢提告，光焱科技隨即透過發言人廖清霖協理發布聲明予以駁斥。光焱強調，截至目前為止，公司僅從公開資訊觀測站得知汎銓的單方面公告，尚未收到任何法院送達的正式起訴狀或法律訴訟資料。
光焱董事長柯歷亞亦對外表示，光焱在光學檢測與光電子晶片檢測領域深耕長達16年，旗下的核心產品均為團隊自主研發之自有技術，並無套用他家公司技術的必要。光焱科技在公告中鄭重指出，公司目前也有多項專利正在申請程序中，待收到正式訴訟文件後，將委請律師團隊積極配合司法程序進行必要答辯。光焱評估，就目前掌握的情節來看，此案對公司財務及業務均不致產生重大影響，各項營運、業務及設備出貨皆照常運作。
矽光子技術與市場未來觀察
隨著AI應用對資料傳輸速度與頻寬需求的快速提升，矽光子與共同封裝光學（CPO）技術已成為半導體下一個十年的關鍵戰場。汎銓與光焱作為檢測領域的先行者，此次專利訴訟反映出先進技術的競爭已從單純的製程端，延伸至檢測與關鍵設備的專利防線。
這場「兩億元之爭」究竟是專利保衛戰還是市場卡位戰，最終將交由法律程序給出答案。業界將持續關注此案的發展，及其對台灣半導體檢測產業版圖和全球AI傳輸技術生態系可能帶來的影響。
矽光子專利戰的核心爭議點為何？
此專利戰的核心爭議點在於汎銓科技指控光焱科技侵害其「光學損傷檢測裝置」發明專利（I870008B）。汎銓聲稱其技術能精確定位矽光子晶片中的光損故障點，是失效分析的關鍵，並已取得多國專利。光焱則強調其核心技術皆為16年自主研發，並未侵權。
汎銓為何對光焱提出專利訴訟？
汎銓董事長柳紀綸表示，其「光學損傷檢測」技術在矽光子晶片失效分析中扮演關鍵角色，能有效定位光的IC故障點。汎銓認為光焱的相關技術已進入其專利權利範圍，因此提告求償，並期望透過此舉鞏固其在矽光子檢測市場的寡佔地位，目標市佔率達90%以上。
