根據光焱科技於 2026 年 3 月 26 日的最新聲明，面對同業汎銓科技於公開資訊觀測站及記者會上，單方面宣稱其侵害第 I870008B 號「光損偵測裝置」發明專利並獅子大開口求償一事，光焱科技嚴正駁斥此指控，強調截至目前為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件。此爭議的核心在於雙方檢測技術的世代差異，光焱科技主張其高光譜成像技術與汎銓所持的金相顯微鏡專利，存在本質上的區別，並質疑此舉恐阻礙產業創新發展。
數據發現：專利指控與技術世代的鴻溝
據光焱科技表示，汎銓科技在未經完整司法程序前，即透過媒體發布資訊，此舉讓業界深感遺憾。這不僅是商業競爭，更觸及了對產業創新精神的尊重與否。光焱科技明確指出，雙方在核心檢測技術上存在顯著的世代落差，這項差異是理解整起專利爭議的關鍵。
光焱科技指出：「汎銓所宣稱之專利，係採用傳統『金相顯微鏡』組成之方案進行光損量測；光焱科技則是基於次世代、更先進的『高光譜成像技術感測模組』為核心技術，可高度整合於客戶端之系統（如探針台、電測機）上，直接進行矽光子光學檢測。」
有趣的是，光損檢測其實僅是光焱在矽光子晶片檢測多功能模組中的其中一項技術應用。他們的核心競爭力在於整合性與前瞻性，與汎銓的專利技術路徑截然不同。光焱科技直言，拿前一個世代的金相顯微鏡專利，來指控新世代的高光譜影像感測模組，在技術本質上是完全站不住腳的，這無疑是一場「以舊打新」的專利戰。
解讀意義：專利範圍與舉發案例的啟示
汎銓科技曾於記者會上高調宣稱其專利歷經 17 項舉發仍維持有效，藉此強化其專利強度。不過，光焱科技對此提出專業見解，透過檢視公開資料，該專利舉發案之所以不成立，主要原因在於當時的舉發人提出了更先進的檢測技術與零組件作為證據，主管機關因此認定這些新技術與汎銓所採用的傳統金相顯微鏡技術「無關」。
這個結果，其實恰好證明了該專利所保障的僅是汎銓自身特定的技術實施手段，而非涵蓋所有「光損檢測」的功能。這也進一步明確證實了光焱科技所採用的高光譜成像系統，與汎銓的技術截然不同，自然毫無侵權之疑慮。產業界普遍認知，專利保障的是特定的技術實施手段，而非將「光損檢測」一詞註冊為商標，進而壟斷整個市場。
產業影響：市場競爭與智慧財產權的界線
光焱科技認為，不能因為汎銓針對其自有技術申請了專利，就無限上綱認定市場上所有具備「光損檢測」功能的設備皆侵害其權益。如果依循此邏輯，那麼近期國際光學大廠蔡司（Zeiss）宣佈進軍光損檢測領域，難道也構成對汎銓的侵權？此一類比凸顯了對方說法在產業技術和法律邏輯上皆有失偏頗之處。
光焱科技深耕光學與光電子晶片檢測領域已長達 16 年，期間始終極度尊重智慧財產權。公司所有核心產品均為團隊自主研發，並未且無須使用其他公司之技術與專利。面對此次同業的不實指控與行銷操作，光焱科技強調，公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響。他們將積極配合後續的司法程序進行答辯，以捍衛公司、客戶及全體股東的合法權益。
數據背後的啟示：捍衛創新與公平競爭
綜觀此次專利爭議，其核心不僅是兩家公司的權益之爭，更是對產業創新與公平競爭環境的考驗。光焱科技的案例揭示了在高速發展的科技產業中，如何清晰界定專利範圍、避免「以舊打新」的競爭策略，以及確保新興技術能有合理的發展空間。維護健康的產業生態，鼓勵技術迭代與創新，對於臺灣半導體乃至全球高科技產業的持續進步至關重要。
